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激光粒度分析儀( LT2200)

型號: LT2200

產品時間:2020/5/18 15:49:40

簡要描述:

LT2200加持了真理光學針對衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術的使用,使用戶無需選擇分析模式,即可在全粒徑范圍獲得準確可靠的粒度結果;LT2200系列粒度儀還采用了真理光學的高速全息信號處理技術,測量速度可達每秒20000次,確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒; LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥,電池材料,地質,水文,化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。

真理光學技術團隊具有超過二十年的粒度表征及應用開發的經驗,在全球享有很高的聲譽。LT2200是真理光學基于多年的科研成果開發的新一代超高速智能激光粒度分析系統,其多項技術性能和指標均十分優異,成為當今粒度儀市場極具性價比的產品。

 

 

 

LT2200加持了以下多項創新和優勢技術:

 

◆ 偏振濾波技術

◆ 衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術

◆ 斜入射反傅里葉光路配置

◆ 格柵式大角度檢測陣列技術

◆ 粒度分析模式優化及自適應技術

◆ 連續液位感知及控制技術

◆ 高靈敏度光能跟蹤及穩定技術

 

LT2200光學測量系統的卓越性能還包括:

◆ 完全符合ISO13320衍射法測量技術標準

◆ 獨特的光路配置,超大連續的物理測量角度
◆ 改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧極高的分辨率和穩定性
◆ 無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.02微米至2200微米
◆ 采用全息信號同步處理技術,實時測量速度達每秒20000次,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
◆ 采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,徹底克服了氦氖氣體激光器預熱時間長,使用壽命短的缺點
◆ 采用偏振空間濾波技術,徹底摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器

項目 指標
測量原理 激光衍射
光學模型 全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選
粒徑范圍 0.02μm-2200μm,無需更換透鏡,不依賴標樣校準
檢測系統 包含格柵式超大角度,非均勻交叉面積補償檢測器陣列及高靈敏度后向散射檢測單元
測量池 平行斜置
光源 集成恒溫系統的638nm,20mW固體激光器
空間濾波方式 非針孔式偏振濾波技術
光學對中系統 智能全自動
測量時間 典型值小于10秒
測量速度 可達20000次/秒
準確度 Dv50優于±0.6% (NIST可溯源乳膠標樣)
重復性 Dv50優于±0.5% (NIST可溯源乳膠標樣)
激光安全 1類激光產品
計算機配置 Intel i5處理器,4GB內存,250GB硬盤,鼠標,鍵盤和寬屏顯示器
計算機接口 USB2.0或以上
軟件運行平臺 Windows7或以上專業版
操作環境溫度 5℃-40℃
操作環境濕度 10%-85%相對濕度(無結凝)
電源要求 交流220V,50Hz-60Hz,標準接地
光學系統重量 31kg
光學系統尺寸 670mm x 275mm x 320mm

 

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